XRS-FP2

Programvara · analys

Kvantitativ analys av röntgenspektrum.

Huvudfunktion: Kvantitativ analys av röntgenspektrum1
Metod: Fundamentalparametrar (FP) för XRF1
Licenslägen: BULK, MTF och EPXA enligt köpt option1
Resultat: Elementhalter och/eller filmtjocklek1

Ladda ner produktblad (PDF)Alla värden med källhänvisningar – för upphandlingsunderlag

Specifikationer kontrollerade mot tillverkarens dokument 2026-10-16

Tillverkarens produktsida (öppnas i ny flik)

Översikt

Kärnkraft & kärnteknik Forskning & laboratorier Miljöövervakning & strålskydd Industri & kvalitetskontroll

Nyckelegenskaper

FP för XRF; ZAF för EPXA-läge
BULK, MTF och EPXA enligt köpt option
Elementhalter och/eller filmtjocklek

Specifikationer

Siffran efter varje värde hänvisar till källan nedan. Värdena gäller enligt tillverkarens publicerade dokument; aktuell konfiguration bekräftas alltid i offert.

Detektor

Detektorer	Amptek Si-PIN, SDD och CdTe1

Elektronik & signal

Resultat	Elementhalter och/eller filmtjocklek1

Programvara & data

Huvudfunktion	Kvantitativ analys av röntgenspektrum1
Metod	Fundamentalparametrar (FP) för XRF1
Licenslägen	BULK, MTF och EPXA enligt köpt option1
Realtidsanalys	Upp till 55 element1

Beställning & tillbehör

EPXA-tillägg	SEM/EDS-analys; licensoption inom XRS-FP21

Allmänt

Datainsamling	DPPMCA eller direkt styrning av Amptek DPP1
Spektrumjämförelse	Upp till 8 spektrum1

Uppgifterna kommer från tillverkarens publicerade dokument. Tillverkaren kan ändra specifikationer; aktuell konfiguration och prestanda bekräftas i offert.

Källor

Siffran efter varje värde hänvisar till källan nedan. Värdena gäller enligt tillverkarens publicerade dokument; aktuell konfiguration bekräftas alltid i offert.